| 三目透反射偏光顯微鏡：XPF-300C
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一、儀器的主要用途和特點
XPF-300透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校常用的專業實驗儀器。用于不透明物體或半透明物體，可以同時采用透射光和反射光觀察.
隨著光學技術的不斷進步，偏光顯微鏡的應用范圍也越來越廣闊，許多行業，如化工，半導體工業以及藥品檢驗等等，都廣泛地使用偏光顯微鏡。XPF-300透反射偏光顯微鏡就是非常適用的產品，可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。
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| 二、儀器的主要技術指標 |
| 名
稱
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規
格
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| 總放大倍數： |
40X---630X |
| 無應力消色差物鏡 |
4X/0.1 |
| 10X/0.25 |
| 25X/0.40 |
| 40X/0.65彈簧 |
| 63X/0.85彈簧 |
| 目鏡 |
10X十字目鏡 |
| 10X分劃目鏡 |
| 試片 |
石膏1λ試片 |
| 云母1/4λ試片 |
| 石英楔子試片 |
| 測微尺 |
0.01mm |
| 濾色片 |
藍色 |
| 帶座目鏡網絡尺 |
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| 移動尺 |
移動范圍30mm×40mm |
| 鏡筒 |
三目觀察 |
同軸照明系統
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顯微鏡垂直照明系統，系統系數1倍，可適配與各型號的普通(160毫米機械筒長，斜筒式)
顯微鏡 。可作為反射光照明系統下觀察不透明物體表面細微結構.
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| 三、系統數字性 |
| XPF-300C型偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機上很方便地觀察偏光圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。 |
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| 四、系統組成 |
1、偏光顯微鏡XPF-300
2、電腦適配鏡
3、彩色攝像器機
4、A/D轉換器(圖形采集設備)
5、計算機（選購） |
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| 五、選購部分 |
| 1.偏光分析軟件 |
| 2.200萬像素彩色成像器,300萬像素彩色成像器,400萬像素彩色成像器 |
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