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| 偏光熔點儀(熱臺)：XPR-300C
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一、儀器的主要用途和特點
XPR-300型透射偏光熔點測定儀（熱臺）是地質、礦產、冶金、石油化工、化
學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業最常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。
本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究領域的當前較領先技術，多年研究開發的結果，在國內較領先.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。
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| 二、儀器的主要技術指標 |
1.顯微鏡技術參數:
| 名稱
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規格
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| 總放大倍數： |
40X---630X |
| 無應力消色差物鏡 |
4X/0.1 |
| 10X/0.25 |
| 25X/0.40 |
| 40X/0.65彈簧 |
| 63X/0.85彈簧 |
| 目鏡 |
10X目鏡 |
| 10X十字目鏡 |
| 10X分劃目鏡 |
| 試片 |
石膏1λ試片 |
| 云母1/4λ試片 |
| 石英楔子試片 |
| 測微尺 |
0.01mm |
| 濾色片 |
藍色 |
| 帶座目鏡網絡尺 |
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| 移動尺 |
移動范圍30mm×40mm |
| 鏡筒 |
三目觀察 |
2.熔點儀技術參數:
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熱臺組成 |
性能 |
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顯微精密控溫儀 |
在 20倍物鏡下工作溫度可達到最高300
℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，
30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度
± 0.3 ℃、記憶點讀數 |
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顯微加熱平臺 |
可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于±
0.1
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起始溫度室溫
•
工作區加熱使用面積至少 1X1厘米
•
工作區溫度梯度不超過 ± 0.1
•
透光區域 2mm以上，可調
•
顯示溫度與實際溫度誤差不超過
± 0.2
•
熱臺可以隨載物臺移動
在加熱狀態下最高可使用 20倍物鏡 |
注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離
太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡） |
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| 三、系統數字性 |
| XPR-300C型偏光熔點儀系統是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術和精密的溫控技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。 |
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| 四、系統組成 |
1、偏光顯微鏡XP-300
2、電腦適配鏡
3、彩色攝像器機
4、A/D轉換器(圖形采集設備)
5、熱臺
6、計算機（選購） |
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| 五、選購部分 |
| 1.偏光分析軟件 |
| 2.200萬像素彩色成像器,300萬像素彩色成像器,400萬像素彩色成像器 |
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