| 微分干涉金相顯微鏡(太陽能顯微鏡）：DMM-1200C
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一、微分干涉金相顯微鏡儀器的主要用途和特點
DMM-1200微分干涉金相顯微鏡（DIC)采用優質的無限遠光學系統，微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統與透射照明系統、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器，可選用微分干涉（DIC）觀測、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好,是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的，作為高級工業金相顯微鏡使用;可進行明場觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
DMM-1200C電腦型微分干涉金相顯微鏡是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計算機上很方便地適時觀察金相圖像，并可隨時拍攝記錄金相圖片,從而對金相圖譜進行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。
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